廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司
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詳細(xì)摘要： 透明薄膜測厚儀根據(jù)反射回來的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時(shí)完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以...
產(chǎn)品型號：所在地：廣州市更新時(shí)間：2023-07-18 在線留言
詳細(xì)摘要： 白光干涉測厚儀根據(jù)反射回來的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時(shí)完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以...
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